樣品來源:長(zhǎng)春工業(yè)大學(xué)
樣品名稱:鈍化膜
測(cè)試要求:形貌/粗糙度
1.鈍化膜 5H 測(cè)試區(qū)域(區(qū)域一)
掃描范圍:8um*8um 粗糙度:2.49nm
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